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    石英晶體元器件檢測和試驗標準
    發布時間:2010/10/25 8:26:02 來源: 銅陵日興電子 被瀏覽次數:568
    SJ/Z9154.1-87(IEC444-1(1986))用π網絡零相位法測量石英晶體元件參數 第一部分,頻率和諧振電阻測量
     
    SJ/Z9154.2-87(IEC444-2)(1980)用π網絡零相位法測量石英晶體元件參數  第二部分,相位偏置法測量動態電容
     
    SJ/Z9154.3-87(IEC444-3)用π網絡零相位法測量石英晶體元件參數  第三部分,利用有并電容C0補償的π型網絡相位法測量頻率達200MHz的石英晶體元件兩端網絡參數的測量方法
     
    SJ/T11212-1999 (IEC444-69(1995)) 石英晶體元件參數測量  第6部分  激勵電平相關性(DLD) 測量
     
    IEC68-2   環境試驗   第二部分  各種試驗
     
    GB2423   電工電子產品環境試驗標準
     
    GJB360A-1996(MIL-STD-202F)電子及電氣元件試驗方法
     
    MIL-STD-883 微電子器件試驗方法和程序
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